实验装备

微纳力学测量系统

型号:Nanomechanics InSEM III

性能指标:静态加载功能 a) 最大压痕深度:?50um b) 位移分辨率0.02nm c) 位移的噪音水平:≤0.2nm d) 加载模式:电磁力加载 e) 位移测量:电容位移传感器 f) 最大载荷:?50mN g) 载荷分辨率:≤3nN h) 载荷的噪音水平:≤200nN i压载装置的刚度:?80 N/m j) 阻尼系数:0.05 N-s/m 动态加载功能 a)能够进行恒应变速率b)能够通过一次压痕获得接触刚度、硬度和弹性模量随压痕深度的连续函数分布 c)能够测量材料的储存模量、损耗模量和阻尼

用途:主要用于金属,非金属及复合材料在扫描电镜(SEM)或聚焦离子束工作站(FIB)中进行微纳米尺度下的静态、动态原位力学性能测试。

联系人:郭强

联系电话:34202524

房间号材料D114