实验装备

场发射透射电子显微镜

    号:JEOL 2100F

性能指标:加速电压:≥200 kV 分辨率:≤0.25 nm(点分辨率);≤0.15 nm(线分辨率); 相机常数:30- 4500 mm; 样品台移动距离:≥±1 mmxy);

    途:主要用于材料显微结构的表征和分析。在金属基复合材料国家重点实验室,TEM将主要用于先进金属基复合材料中基体/增强体界面结构与性能的研究。

联系人:郭强

联系电话:34202524

房间号:材料D122